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賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質譜儀
賽默飛ELEMENT GD Plus輝光放電質譜儀

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德國

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賽默飛色譜與質譜

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Thermo Scientific ELEMENT GD結合了輝光放電離子源和雙聚焦高分辨率質量分析器,可以定性定量分析固體樣品中包括C、N、O在內的幾乎所有元素,是直接、快速分析高純樣品雜志含量和鍍層材料元素組成的**工具。

ELEMENT GD集中了輝光放電和高分辨質譜的優(yōu)勢,在以下方面有杰出表現:

·樣品測試通量高:ELEMENT GD離子源和樣品夾的設計使可縮短換樣和分析時間,顯著提高生產率;

·檢測器線性范圍寬:檢測器線性范圍達12個數量級,可一次掃描同時檢測基體和痕量元素組成;

·具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫,采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。

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