看了熒光測厚儀的用戶又看了
留言詢價
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
MicronX型熒光測厚儀是一種專門應用于半導體材料和電子器件領域的檢測設備。
檢測區(qū)域為50m~500um. 通過CCD 可放大圖像達300倍。通過高精密度樣品臺可提供元素面分布圖。
可對多達7層的涂層或鍍層進行逐層厚度測量。
暫無數(shù)據(jù)！
熒光測厚儀的工作原理介紹？熒光測厚儀的使用方法？熒光測厚儀多少錢一臺？熒光測厚儀使用的注意事項熒光測厚儀的說明書有嗎？熒光測厚儀的操作規(guī)程有嗎？熒光測厚儀的報價含票含運費嗎？熒光測厚儀有現(xiàn)貨嗎？熒光測厚儀包安裝嗎？
手機版：
工商已核實
