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產(chǎn)品特點(diǎn):
大功率的穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬光源
配置應(yīng)用在科研級(jí)的分光及探測(cè)系統(tǒng)
對(duì)比測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)溯源至NIST
簡(jiǎn)潔美觀的**設(shè)計(jì)
去除影響測(cè)試結(jié)果的多余結(jié)構(gòu),減少系統(tǒng)誤差
優(yōu)化傳統(tǒng)的測(cè)試結(jié)構(gòu),提高測(cè)量的不確定度及重復(fù)性
粗大誤差自動(dòng)去除,線性誤差、周期誤差等的自動(dòng)校正
可擴(kuò)展增加溫控、真空吸附等輔助結(jié)構(gòu)
技術(shù)參數(shù):
波長(zhǎng)范圍 | 350-1050nm(可擴(kuò)展) |
測(cè)試樣品尺寸 | ≤156x156mm(可擴(kuò)展) |
測(cè)試模式 | Mapping |
系統(tǒng)重復(fù)性 | 1% |
反射率范圍 | 0-100% |
單點(diǎn)測(cè)試時(shí)間 | <3s |
校正時(shí)間 | <15s |
雜散光 | 1x10-3 |
取樣孔徑 | Φ10mm |
校準(zhǔn)板 | 標(biāo)準(zhǔn)白板(溯源NIM) |
暫無(wú)數(shù)據(jù)!