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正電子湮沒壽命譜儀
正電子湮沒壽命譜儀應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域中半導(dǎo)體材料類缺陷的測試。這是一套測量設(shè)備和電源一體化的正電子湮沒壽命譜儀。在壽命測試中，使用3GSPS來測算壽命時(shí)間，這是由兩種BaF2的閃爍體產(chǎn)生的高速脈沖信號所導(dǎo)入的。在多普勒寬譜（CDB）中，二維的柱圖是由兩個(gè)鍺半導(dǎo)體探測器的波高分布特征值所計(jì)算出的。此外，這套正電子湮沒壽命譜儀也可以用AMOC模式來測試相關(guān)材料的壽命時(shí)間及電子動(dòng)量密度分布
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