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儀器簡介：

DIC（Digital Image Correlation）數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)是一種非接觸式測量材料全場應(yīng)變、位移的光學(xué)測量技術(shù)，該技術(shù)幾乎適用于任何材料且測試面積廣、結(jié)果精確。

Dantec DIC Q-400丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款測量材料表面位移與應(yīng)變的標(biāo)準(zhǔn)DIC設(shè)備，該設(shè)備不與被測物體表面發(fā)生接觸，通過追蹤物體表面的散斑圖像，實(shí)現(xiàn)變形過程中物體表面三維坐標(biāo)、位移場和應(yīng)變場的測量。該設(shè)備幾乎適用于任何材料且測量范圍廣、測量精度高。

技術(shù)參數(shù)：

測量維度：二維、三維

測量區(qū)域：10mm×10mm—5m×5m（該區(qū)間外也可測量，但測量精度會相應(yīng)下降）

測量精度：位移（1μm），應(yīng)變（0.005%）

主要特點(diǎn)：

精度高、測量范圍廣、無接觸、方便使用