參考價(jià)格
面議型號(hào)
SiCOPE系列品牌
國(guó)儀量子產(chǎn)地
安徽合肥樣本
暫無(wú)重現(xiàn)性:
比表面積重復(fù)性(RSD)≤1.0%儀器原理:
靜態(tài)容量法分散方式:
4站原位脫氣;并配置獨(dú)立樣品預(yù)處理設(shè)備測(cè)量時(shí)間:
3.3L杜瓦瓶長(zhǎng)效保溫72h測(cè)量范圍:
比表面積:0.0005 m2 /g及以上; 孔徑:0.35-500 nm孔徑精準(zhǔn)分析;總孔體積:0.0001 cc/g及以上誤差率:
0%;最可幾孔徑重復(fù)偏差分辨率:
分析站和P0站: 1000 Torr精度±0.1%看了微孔分析儀 SiCOPE系列的用戶又看了
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微孔分析儀
SiCOPE系列
SiCOPE系列微孔分析儀為微孔材料精準(zhǔn)表征而設(shè)計(jì),在0.35-2 nm孔徑范圍的測(cè)量精準(zhǔn)度達(dá)到國(guó)際**水平。依托精密管路設(shè)計(jì)和高品質(zhì)核心部件,結(jié)合強(qiáng)大且靈活的數(shù)據(jù)分析模型,為分子篩、多孔碳、MOFs等材料研究提供了高分辨率分析保障,助力科研探索與工業(yè)研發(fā)多領(lǐng)域突破。
核心優(yōu)勢(shì)
比表面積重復(fù)精度≤1%,*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm
不少于40種NLDFT模型助力多孔材料分析
支持N2、CO2、Ar、H2等其他非腐蝕性氣體測(cè)試
各分析站配置
獨(dú)立壓力傳感器
4站同步分析
垂直上推式防護(hù)門
操作便捷
不占用額外空間
3.3L杜瓦瓶
長(zhǎng)效保溫72h
內(nèi)嵌進(jìn)度燈條
實(shí)時(shí)反饋測(cè)試進(jìn)度
產(chǎn)品特點(diǎn)
精準(zhǔn)控氣 效能提升
采用高精度比例閥與電磁閥聯(lián)動(dòng)控制技術(shù),確保目標(biāo)壓力點(diǎn)的快速精準(zhǔn)控制,大幅提升儀器運(yùn)行效率,控氣精度達(dá)±0.5 mmHg。
精準(zhǔn)控漏 精度**
創(chuàng)新性自研自鎖閥、電磁閥等核心部件,技術(shù)自主可控,極低漏率為低壓微孔段測(cè)試提供高精度保障。
模型精鑄 洞見(jiàn)非凡
軟件內(nèi)置算法集成BET、Langmuir、HK等常用分析模型及不少于40種NLDFT模型;BET一鍵智能選點(diǎn),解決微孔材料BET段前移的選點(diǎn)問(wèn)題,消除不同人員處理數(shù)據(jù)的偏差。
無(wú)塵精裝 穩(wěn)定保障
核心模塊在ISO Class 7萬(wàn)級(jí)潔凈間(電鏡級(jí)裝配標(biāo)準(zhǔn))完成全密封組裝,相較傳統(tǒng)裝配環(huán)境潔凈度提升兩個(gè)數(shù)量級(jí),確保氣路系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
自動(dòng)后標(biāo) 零氦測(cè)試
采用He-Free自由空間后置標(biāo)定方案,從源頭消除氦氣殘留對(duì)測(cè)試的干擾,為超微孔材料精準(zhǔn)分析提供可靠方案。
靈活脫氣 轉(zhuǎn)移無(wú)憂
支持原位與異位兩種脫氣方式,提供空氣隔離塞或真空隔離塞,保障微孔樣品從脫氣站轉(zhuǎn)移至分析站過(guò)程零污染。
人性設(shè)計(jì) 省力高效
垂直上推式防護(hù)門操作便捷、節(jié)省空間;杜瓦瓶設(shè)計(jì)符合人體工學(xué),方便拿??;設(shè)備底座內(nèi)嵌進(jìn)度燈條實(shí)時(shí)反饋測(cè)試進(jìn)度。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
摘要:硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,因?yàn)榫哂辛己玫目拐承浴⒃隽餍院蜐?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用,作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑,比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響,硬脂酸鎂的比表面積越大,其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu),是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
此次平臺(tái)建設(shè)中,我們明確選用國(guó)產(chǎn)FIB(國(guó)儀量子DB550)設(shè)備。這一決策不僅響應(yīng)了國(guó)家科技自立自強(qiáng)的號(hào)召,也將在實(shí)際應(yīng)用中驗(yàn)證國(guó)產(chǎn)設(shè)備的技術(shù)實(shí)力。——杭州電子科技大學(xué)電子信息大儀中心主任兼掃描電鏡技
不忘初心 砥礪前行6月30日,為慶祝中國(guó)共產(chǎn)黨成立104周年,國(guó)儀量子黨支部組織全體黨員開(kāi)展了主題黨日活動(dòng),國(guó)儀量子公司黨員和董事長(zhǎng)賀羽參加。
6月26日上午,省長(zhǎng)王清憲走訪合肥市部分科技類企業(yè)和項(xiàng)目,調(diào)研科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新融合發(fā)展工作。他強(qiáng)調(diào),要深入學(xué)習(xí)貫徹習(xí)近平總書(shū)記考察安徽重要講話精神,落實(shí)省委部署,堅(jiān)持抓作風(fēng)抓發(fā)展兩手一起抓,實(shí)打?qū)崕?/p>
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí),Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,覆蓋在芯片表面,隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利