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產(chǎn)品特點(diǎn)
全自動(dòng)測(cè)量：測(cè)量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出完全自動(dòng)化，大大提高了測(cè)量效率和準(zhǔn)確性。
大樣品尺寸測(cè)量：樣品尺寸可達(dá)300mm，可容納多個(gè)樣品，能夠繪制最大300mm見(jiàn)方的樣品并連續(xù)測(cè)量多個(gè)樣品。
多種測(cè)量方式：可以通過(guò)三種方式進(jìn)行測(cè)量位置設(shè)置：網(wǎng)格輸入、直線輸入和順序輸入。
寬測(cè)量范圍：可連接到Loresta GX，測(cè)量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能：在屏幕上標(biāo)注范圍外的測(cè)量結(jié)果的測(cè)定點(diǎn)。
粉末測(cè)量功能：要測(cè)量粉末的體積電阻率，只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力，同時(shí)測(cè)量粉末的電阻率和壓制密度。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍：10?2至10?Ω。
樣品尺寸：最大300mm見(jiàn)方。
功能與應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛：適用于金屬、金屬薄膜、導(dǎo)電涂層、導(dǎo)電薄膜、片材等多種材料的電阻率測(cè)量。
膜厚和成分變化檢測(cè)：導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開發(fā)：可用于電子元件和材料的開發(fā)和質(zhì)量控制。