參考價(jià)格
1-5萬(wàn)元型號(hào)
Model sigma-5+品牌
日本nps產(chǎn)地
日本樣本
暫無(wú)探測(cè)器:
不限加速電壓:
不限電子槍:
不限電子光學(xué)放大:
不限光學(xué)放大:
不限通道數(shù):
不限誤差率:
不限波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:
不限靈敏度:
100分辨率:
400重現(xiàn)性:
300儀器原理:
其他分散方式:
100測(cè)量時(shí)間:
不限測(cè)量范圍:
300看了日本nps片狀電阻率測(cè)定器Model sigma-5+的用戶又看了
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寬測(cè)量范圍:可連接到Loresta GX,測(cè)量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標(biāo)注范圍外的測(cè)量結(jié)果的測(cè)定點(diǎn)。
粉末測(cè)量功能:要測(cè)量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時(shí)測(cè)量粉末的電阻率和壓制密度。
測(cè)量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:**300mm見(jiàn)方。
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導(dǎo)電涂層、導(dǎo)電薄膜、片材等多種材料的電阻率測(cè)量。
膜厚和成分變化檢測(cè):導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開(kāi)發(fā):可用于電子元件和材料的開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制。
寬測(cè)量范圍:可連接到Loresta GX,測(cè)量范圍為10??至10?Ω。
比較器功能:在屏幕上標(biāo)注范圍外的測(cè)量結(jié)果的測(cè)定點(diǎn)。
粉末測(cè)量功能:要測(cè)量粉末的體積電阻率,只需將樣品放入探頭單元并將其放置在設(shè)備中即可。該裝置施加給定的壓力,同時(shí)測(cè)量粉末的電阻率和壓制密度。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍:10?2至10?Ω。
樣品尺寸:最大300mm見(jiàn)方。
功能與應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:適用于金屬、金屬薄膜、導(dǎo)電涂層、導(dǎo)電薄膜、片材等多種材料的電阻率測(cè)量。
膜厚和成分變化檢測(cè):導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
電子元件和材料開(kāi)發(fā):可用于電子元件和材料的開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制。
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