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A3-SR 系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO 等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED 鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR 可用于測量2納米到3000 微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。在折射率未知的情況下，A3-SR還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外，A3-SR還可用于正確測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以內。
A3-SR 進行測量簡單可信賴，實際測量采樣時間低于1秒。配合我們的Apris SpectraSys軟件進行手動測量，每次測量時間低于5秒。Apris SpectraSys支持50層膜以內的模型并可對多層膜厚參數進行測量。Apris SpectraSys軟件還擁有近千種材料的材料數據庫，同時可對折射率進行擬合。
同時，客戶還可以通過軟件自帶數據庫對材料，菜單進行管理并
回溯檢查測量結果。

目標應用
半導體鍍膜，光刻膠
玻璃減反膜測量
藍寶石鍍膜，光刻膠
ITO 玻璃
太陽能鍍膜玻璃
各種襯底上的各種膜厚
卷對卷柔性涂布
顏色測量
車燈鍍膜厚度
陽極氧化厚度

其他需要測量膜厚的場合