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熱變形翹曲測量系統(tǒng)(DIC)
熱變形翹曲測量系統(tǒng)(DIC)

參考價格

面議

型號

熱變形翹曲測量系統(tǒng)(DIC)

品牌

南京博邁威

產(chǎn)地

江蘇

樣本

暫無
南京博邁威機電科技有限公司

高級會員

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第1年

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熱變形翹曲測量系統(tǒng)可在常溫和高溫(**400°C)不同溫度條件下對印刷電路板(基板)與元器件之間的熱匹配特性進行測量。實現(xiàn)對基板、元器件在不同溫度下(模擬回流焊的溫度變化)的翹曲度的檢測。通過測量樣品的翹曲度變化,分析基板與元器件的匹配特性,以保證產(chǎn)品的焊接質(zhì)量和可靠性。

技術(shù)參數(shù)

型號

TWMD-600(DIC)

TWMD-400H(DIC)

TWMD-400(DIC)

TWMD-250(DIC)

測量技術(shù)

高速數(shù)字相移條紋投影+DIC

**視場

600mm×600mm

400mm×400mm

400mm×400mm

250mm×250mm

**樣品尺寸

600mm×600mm

400mm×400mm

400mm×400mm

250mm×250mm

*小樣品尺寸

40mm×40mm

20mm×20mm

20mm×20mm

10mm× 10mm

**共面度

50mm

50mm

50mm

50mm

垂直位移分辨率(z軸)

1.5μm

0.75μm

1.5μm

0.5μm

垂直位移精度(z軸)

1.5μm or 2%

0.75μm or 1%

1.5μm or 1%

0.5μm or 1%

水平位移分辨率(XY軸)1.5μm1um1.5μm0.5um
應(yīng)變分辨率10μStrain10μStrain10μStrain10μStrain

**測量點數(shù)

8000 萬

8000萬

2500萬

2500萬

**測點密度

250點/mm2

400點/mm2125點/mm2400點/mm2

*小測量密度

15點/mm2

25點/mm29點/mm225點/mm2

加熱方式

紅外輻射加熱

降溫方式壓縮機風(fēng)冷

**溫度

320℃

350℃

350℃

400℃

**升溫速率

2℃/秒(50℃-250℃)

3℃/秒(50℃-250℃)

3℃/秒(50℃-250℃)

4℃/秒(50℃-250℃)

**降溫速率

1℃/秒(250℃-125℃)

1.5℃/秒(250℃-125℃)

1.5℃/秒(250℃-125℃)

2℃/秒(250℃-125℃)

**可設(shè)溫度曲線數(shù)

100

**熱分布無限制

**熱循環(huán)時間

無限制

每周期**采集量

無限制

自動數(shù)據(jù)采集

支持

批處理數(shù)據(jù)分析

支持

測試報告自動生成支持
樣品數(shù)量無限制
樣品批處理支持
樣品自動識別支持

數(shù)據(jù)輸出格式

.pdf,.gif,.bmp,.dat,.txt,.png

典型樣品設(shè)置時間

1分鐘(不噴漆)/8分鐘(噴漆)

典型樣品制備方法DIC/黑色/白色噴漆

數(shù)據(jù)采集時間

3秒(熱膨脹系數(shù)0.1s)

2秒(熱膨脹系數(shù)0.1s)2秒(熱膨脹系數(shù)0.1s)2秒(熱膨脹系數(shù)0.1s)

數(shù)據(jù)分析時間

3秒(熱膨脹系數(shù)8s)

2秒(熱膨脹系數(shù)5s)2秒(熱膨脹系數(shù)5s)2秒(熱膨脹系數(shù)5s)

標(biāo)定方式

全自動標(biāo)定

分析軟件

高速數(shù)字相移條紋投影雙目測試分析軟件+DIC


應(yīng)用范圍

可用于PCB、基板、BGA、IC、硅片,陶瓷基覆銅板、BGA、DBC、AMB、氧化鋁覆銅板、氮化鋁覆銅板、氮化硅覆銅板以及半導(dǎo)體、封裝晶圓和薄膜框架晶圓等微電子器件在受熱變形條件下的翹曲度、平整度共面性測量。由于集成了DIC測量技術(shù),該系統(tǒng)也用于微電子材料的熱膨脹系數(shù)(CTE)和表面應(yīng)變分布測量。


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10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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