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W4型全譜直讀光譜儀
W4型全譜直讀光譜儀

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

W4型全譜直讀光譜儀

品牌

啟航測(cè)量

產(chǎn)地

陜西

樣本

暫無
陜西啟航測(cè)量設(shè)備有限公司

高級(jí)會(huì)員

|

第1年

|

生產(chǎn)商

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  • 誤差率:

    -
  • 分辨率:

    -
  • 重現(xiàn)性:

    -
  • 儀器原理:

    其他
  • 分散方式:

    -
  • 測(cè)量時(shí)間:

    -
  • 測(cè)量范圍:

    -
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  • 一、儀器主要用途

    二、儀器技術(shù)原理和參數(shù)

    1、儀器工作原理

    原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài),該狀態(tài)可以用光譜項(xiàng)來描述;當(dāng)處于基態(tài)的原子或離子吸收了一定的外界能量時(shí),其核外電子就從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài),而處于激發(fā)態(tài)的原子或離子很不穩(wěn)定,經(jīng)由約秒便躍遷返回基態(tài),并將激發(fā)所吸收的能量以光的形式放出,將這些光按一定的波長(zhǎng)順序排列即為原子光譜;由于特定元素可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的光,通過識(shí)別待測(cè)元素的特征光譜存在與否即可進(jìn)行定性分析,根據(jù)該波長(zhǎng)光的強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。

    激發(fā)臺(tái)中的電極與預(yù)先制備好的金屬樣本之間在激發(fā)過程中產(chǎn)生電火花。火花發(fā)出的光通過入射狹縫進(jìn)入光室,通過光柵分光后,不同波長(zhǎng)的光以不同的角度分開,照射到CMOS傳感器上。傳感器將光信號(hào)轉(zhuǎn)化成為電信號(hào),并通過測(cè)量系統(tǒng)傳輸給計(jì)算機(jī),經(jīng)處理后,得出分析結(jié)果。

    2、主要技術(shù)參數(shù)

    項(xiàng)目 指標(biāo) 

    檢測(cè)基體 鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基、錳基、鉻基等13個(gè)基體 

    光學(xué)系統(tǒng) 帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng) 

    波長(zhǎng)范圍 165-589nm(可安裝上下限檢測(cè)器范圍) 

    探 測(cè) 器 高分辯率多CMOS圖像傳感器 

    光源類型 DDD數(shù)字激發(fā)光源,高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS) 

    放電頻率 100-1000Hz 

    放電電流 **400A 

    檢測(cè)時(shí)間 依據(jù)樣品類型而定,一般在25s左右 

    電極類型 鎢材噴射電極 

    分析間隙 樣品臺(tái)分析間隙:3.4mm 

    真空系統(tǒng) 真空軟件自動(dòng)控制、監(jiān)測(cè) 

    氬氣純度 99.999% 

    氬氣壓力 0.5MPa 

    工作電源 AC220V 50/60Hz  

    儀器尺寸 750*560*350mm 

    儀器重量 約70kg 

    五、儀器技術(shù)特點(diǎn)

    W4型全譜直讀光譜儀擁有多項(xiàng)**技術(shù),可快速的對(duì)金屬材料樣品進(jìn)行元素測(cè)定。光學(xué)系統(tǒng)采用CMOS檢測(cè)器,光譜范圍覆蓋全部典型材料。無論從低含量元素還是到高含量的元素,它都能準(zhǔn)確、可靠的分析。,針對(duì)不同材料、不同要求,具有性價(jià)比高的全譜直讀光譜儀,可滿足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開發(fā)的應(yīng)用。

    1、性能優(yōu)越的光學(xué)系統(tǒng)

    帕邢-龍格結(jié)構(gòu)凹面光柵,全譜覆蓋,滿足客戶對(duì)全元素檢測(cè)的需求。

    直射式光學(xué)技術(shù)及采用MgF材料制作的光學(xué)器件,保證紫外區(qū)域的性能。

    高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng),更低的暗電流,更好的檢出限,更高的穩(wěn)定性,更強(qiáng)的靈敏度,滿足N的分析要求。

    2、大能量的數(shù)字激發(fā)光源

    全數(shù)字化智能復(fù)合光源DDD技術(shù),帶來優(yōu)越分析性能。

    緊湊的設(shè)計(jì)及半導(dǎo)體控制技術(shù),使得光源具有更好的穩(wěn)定性、更強(qiáng)的可靠性。

    高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS),激發(fā)參數(shù)調(diào)整,充分滿足不同基體、不同樣品以及不同分析元素的激發(fā)要求。

    3、人性化的樣品激發(fā)臺(tái)設(shè)計(jì)

    激發(fā)臺(tái)直接將激發(fā)光導(dǎo)入光學(xué)系統(tǒng)

    開放式樣品臺(tái),滿足大樣品測(cè)試要求。

    變換電極可對(duì)小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品分析有更好的性能

    4、簡(jiǎn)潔的氬氣流設(shè)計(jì)

    智能氬氣流設(shè)計(jì)及粉塵收集清理裝置

    獨(dú)有的氬氣噴射技術(shù),有效消除激發(fā)過程中等離子體的飄移,確保CCD檢測(cè)器能夠觀測(cè)高溫區(qū)域光信號(hào),提高精度和穩(wěn)定性。

    激發(fā)后,脈沖式氬氣吹掃,提高粉塵去除效果,提升儀器的短期和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

    5、全智能的真空測(cè)量和控制

    真空系統(tǒng)完全程控,在保證真空度的同時(shí)減少真空泵的運(yùn)行時(shí)間,

    雙級(jí)設(shè)置,在儀器不運(yùn)行的情況下,開啟待機(jī)真空運(yùn)行狀態(tài)。

    多級(jí)真空隔離措施及增加濾油裝置,保障光學(xué)元器件在可靠的環(huán)境中工作。

    6、方便快捷的透鏡清理裝置

    一體化的真空球閥,在清理透鏡時(shí)有良好的隔離效果。

    單板式透鏡設(shè)計(jì),拆裝方便。

    交叉機(jī)械裝置,在未解除隔離的情況有效保護(hù)光學(xué)系統(tǒng)。

    7、云計(jì)算及讀出系統(tǒng)

    計(jì)算機(jī)與手機(jī)(或PAD)可同步顯示,方便面板操作。

    高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)及FPGA、DSP和ARM技術(shù),進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。

    以太網(wǎng)和TCP/IP協(xié)議,數(shù)據(jù)傳輸高速、可靠。

    數(shù)據(jù)可遠(yuǎn)程傳輸,多方面實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)化。實(shí)時(shí)方便對(duì)儀器運(yùn)行狀態(tài)的監(jiān)測(cè)和控制。

    數(shù)據(jù)可進(jìn)行云打印。

    8、專用的光譜分析軟件

    光譜儀制作標(biāo)準(zhǔn)的專用光譜儀軟件,操作界面人性化,功能標(biāo)準(zhǔn)化。

    儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析解決方案。

    可根據(jù)用戶的材料要求,可現(xiàn)場(chǎng)延長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)曲線的測(cè)量上、下限。

    9、儀器及軟件運(yùn)算功能強(qiáng)大

    自動(dòng)光路校準(zhǔn)

    低氬氣消耗

    通用可調(diào)樣品適配器

    基體擴(kuò)展功能

    標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)修改

    控樣修正功能

    更安全、更開放的便捷設(shè)計(jì)

    結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,可為用戶定制打印報(bào)告功能

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