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顆粒測(cè)試基本知識(shí)百問百答--13常見粒度測(cè)試方法

顆粒測(cè)試基本知識(shí)百問百答--13常見粒度測(cè)試方法
丹東百特  2017-04-24  |  閱讀:4983

  常用的粒度測(cè)試方法有激光散射法(毫米、微米、納米)、動(dòng)態(tài)光散射法(納 米)、動(dòng)態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法(微米、粒度和粒形)、重力和離心沉降法(微米 / 納米)、庫(kù)爾特(電阻)法(微米)、電鏡法(微米、納米)、超聲波法(微米)、透氣法(微米平均粒度)以及篩分法(大于 38 微米)等。目前最常用的是激光散射法、動(dòng)態(tài)光散射法和顯微圖像法。

激光法圖像法

               

光阻法動(dòng)態(tài)光散射法

                                      

超聲波法 沉降法                                                   

透氣法  電阻法 篩分法

               

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