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粒度與穩(wěn)定性是決定膠體性質(zhì)的兩個參數(shù)，膠體的穩(wěn)定性又與Zeta電位密切相關(guān)，在研究和生產(chǎn)過程中，我們需要測定Zeta電位來確定膠體的分散情況從而確定產(chǎn)品的性能。納米粒度與Zeta電位儀是利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器，可廣泛應(yīng)用于涂料、飲料乳劑、化妝品、紡織品、微電子工業(yè)、制藥行業(yè)等多個領(lǐng)域。

作為材料表征權(quán)威公司，我們一直致力于研發(fā)材料表征的最新方法與技術(shù)，為廣大用戶提供更精確、更廣泛應(yīng)用的測試技術(shù)。為了和大家分享我們最新的研究成果，美國麥克儀器公司定于4月20日在國家納米科學(xué)中心舉辦題為“納米亞微米顆粒表征技術(shù)簡介：動態(tài)光散射（DLS）與電泳光散射（ELS）”的技術(shù)講座，我們誠邀您前來共同探討、交流本行業(yè)的國際最新發(fā)展趨勢。

研討會時間：4月20日13:30

地點(diǎn)： 國家納米科學(xué)中心科研樓三樓會議室

地址：北京市海淀區(qū)中關(guān)村北一條11號

主講人：麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理許人良博士

會務(wù)聯(lián)系人：郭銳

聯(lián)系電話：021-51085884-807

技術(shù)講座基本內(nèi)容：

?    納米顆粒表征綜述

?    光子相關(guān)光譜PCS技術(shù)最新研究進(jìn)展

?    全新的Zeta電位測樣技術(shù)

—如何測量濃溶液的Zeta電位？

—如何測量平整固體表面或薄膜的液固界面Zeta電位？

?    粒度與Zeta電位的應(yīng)用領(lǐng)域

主講嘉賓簡介：

     許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總經(jīng)理，從事顆粒特性研究和檢測技術(shù)30多年，是該領(lǐng)域國際資深著名專家。他于1980年代在美國獲得博士學(xué)位，并在2002年在美國獲得MBA學(xué)位。

他已發(fā)表了基礎(chǔ)理論研究和應(yīng)用領(lǐng)域的科技文章100余篇；獲得3項美國專利；研究成果在科學(xué)檢索引用超過3000多次；在美國各大學(xué)和世界各地進(jìn)行過學(xué)術(shù)講座100多次；并著有顆粒表征中的權(quán)威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》?，F(xiàn)在擔(dān)任眾多專業(yè)期刊的評委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委員會成員；為多項國際標(biāo)準(zhǔn)的起草者；被列為美國和世界名人榜。許人良博士經(jīng)常活躍在中國國內(nèi)學(xué)術(shù)領(lǐng)域，在多所大學(xué)進(jìn)行科技講座?，F(xiàn)任上海華東理工大學(xué)兼職教授，上海師范大學(xué)兼職教授，沈陽科學(xué)技術(shù)學(xué)會特邀外國專家，與國際粉體監(jiān)測與控制聯(lián)合會理事。