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飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)
飛納臺式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)

參考價格

面議

型號

ParticleMetric

品牌

飛納

產(chǎn)地

荷蘭

樣本

暫無
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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第8年

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飛納掃描電鏡顆粒統(tǒng)計分析測量系統(tǒng) Phenom Particle Metric

                                         —— 研究顆粒和粉末的強大工具


使用基于飛納臺式掃描電鏡(Phenom SEM)的 ParticleMetric 顆粒測試工具,以*快、*簡便的方式實現(xiàn)顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的 Phenom 飛納掃描電鏡,加上 Particle Metric 顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。


基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案 ParticleMetric 能夠使用戶根據(jù)需要,隨時獲取所觀測顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比、充實度、伸長率、灰度等級、長軸、短軸長度(橢圓)、凸殼體、重心、像素點數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù),*終實現(xiàn) ParticleMetric 加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。

142422_505791_procont.jpeg  


飛納掃描電鏡顆粒工具ParticleMetric的功能


1.可進(jìn)行以下顆粒分析

  • 顆粒尺寸范圍:100nm ~ 0.1mm

  • 顆粒探測速度:高達(dá) 1000 個/分鐘

  • 顆粒測量屬性:大小、形狀、數(shù)量


2.可以測量的顆粒參數(shù)

  • 面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比

  • 充實度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度(橢圓)

  • 凸殼體、重心、像素點數(shù)、凸?fàn)钗?/span>


3.可以提供的圖形顯示

  • 按數(shù)量或體積的線性、對數(shù)、雙對數(shù)點狀圖

  • 任何指定參數(shù)的散點圖

  • 單個顆粒的 SEM 圖像


4.可以提供的圖形輸出

  • Word 版本 docx 格式的報告,TIFF 格式的圖像

  • CSV 文件,離線分析的項目文件(.PAME)ProSuite 的一部分


飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 工具的優(yōu)勢


1. 加載 ParticleMetric 軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像,方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù);

2. 全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試系統(tǒng) ParticleMetric 軟件測量可以實現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺效果,為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù);

3. ParticleMetric 軟件生成的柱狀圖、散點圖可以作為報告的內(nèi)容按照指定格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性,生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點圖可以按照任何一項顆粒的特性生成,以便揭示相關(guān)聯(lián)系和趨勢;

4. 直接由 Phenom 獲取圖像,識別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒,關(guān)聯(lián)顆粒物的特征,比如直徑、充實度、縱橫比和凹凸度;

5. 便捷的操作提升了工作效率并使計劃表簡單化和可視化;

6. 無限制的圖像采集,可輕松存儲于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤,便于共享、交流或以后參考;

7. Phenom 的易用性和對環(huán)境的良好適應(yīng)力,用戶可以將試樣**程度視覺化;

8. 附有高清圖片的統(tǒng)計學(xué)數(shù)據(jù)


飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng) ParticleMetric 軟件適合的應(yīng)用領(lǐng)域

化妝品行業(yè);食品行業(yè);化工行業(yè);制藥行業(yè);陶瓷;顆粒以及表面涂層;顆粒狀添加劑;環(huán)境顆粒;濾器/篩網(wǎng)公司

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價比

10分
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