參考價(jià)格
面議型號(hào)
X'Pert3 MRD品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無(wú)誤差率:
N/A分辨率:
N/A重現(xiàn)性:
N/A儀器原理:
靜態(tài)光散射分散方式:
N/A測(cè)量時(shí)間:
3-5min測(cè)量范圍:
N/A看了高分辨X射線衍射儀 X'Pert3 MRD的用戶又看了
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X'Pert 平臺(tái)在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統(tǒng)的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 平臺(tái)具有新型機(jī)載控制電子裝置,符合X 射線和運(yùn)動(dòng)安全規(guī)范,且具有環(huán)保和可靠性能,已準(zhǔn)備好迎接未來(lái)的挑戰(zhàn)。
X'Pert3 MRD 系列新增功能具體包括:
? 全新高分辨率測(cè)角儀,它使用 Heidenhain 編碼器,因而準(zhǔn)確性更高且定位反饋時(shí)間更短
?無(wú)需使用工具即可快速將光管位置從點(diǎn)焦斑更改為線焦斑
? 得益于氣動(dòng)快門(mén)和光束衰減器,系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí)間滿足過(guò)程控制要求
? CRISP*(包括無(wú)鉛光管塔)確保入射光路組件的壽命更長(zhǎng)
? 第二代 PreFIX,確保實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的光學(xué)器件定位
? 面向未來(lái)的單板計(jì)算機(jī)控制器,確保更好的連接性和更出色的遠(yuǎn)程支持
*CRISP 指的是耐腐蝕智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出現(xiàn)由 X 射線引起的電離空氣造成的腐蝕。該技術(shù)使儀器運(yùn)行更可靠,避免額外的維護(hù)工作。
PreFIX 技術(shù)
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車(chē)的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過(guò)程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
收獲更多價(jià)值 創(chuàng)造更多可能給您更多選擇我們的理由全球頂尖的學(xué)者、科學(xué)家與研究人員始終信賴我們?yōu)楦餍懈鳂I(yè)提供的化學(xué)、物理和結(jié)構(gòu)分析解決方案。依托行業(yè)領(lǐng)軍品牌 Malvern Panalytical、Mi
會(huì)期:2025年10月17-20日(17日?qǐng)?bào)到)地點(diǎn):廣西桂林·桂林大公館主辦:中國(guó)晶體學(xué)會(huì)承辦:桂林理工大學(xué)10月17-20日,馬爾文帕納科即將參加于廣西桂林舉行的中國(guó)晶體學(xué)會(huì)第10屆學(xué)術(shù)年會(huì)暨第八
新聞導(dǎo)讀:2025年9月10-11 日,由馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)/麥克默瑞提克(Micromeritics)攜手山東聯(lián)科科技股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱 “聯(lián)科科技”)、青島
本文摘要高致密性粉末要滿足增材制造等新型應(yīng)用中的嚴(yán)格技術(shù)規(guī)范要求,其中重要的一點(diǎn)就是驗(yàn)證金屬粉末的粒度分布。這項(xiàng)工作可采用多種不同的分析技術(shù),其中激光衍射法因操作便捷、分析快速而被廣泛采用?。本文就將
本文摘要眾所周知,巧克力在味覺(jué)中占有特殊的地位,很大程度上它的魅力在于其獨(dú)特的口感。而綿密的口感取決于巧克力中脂肪相的成分以及懸浮在脂肪中的可可、牛奶和糖顆粒的大小。本文中我們將通過(guò)激光衍射測(cè)量不同巧
樣品被充分分散是粒徑方法開(kāi)發(fā)過(guò)程中的關(guān)鍵步驟,濕法分散中通常會(huì)采用超聲打開(kāi)團(tuán)聚體。然而,對(duì)于經(jīng)驗(yàn)較少的用戶來(lái)說(shuō),找到那個(gè)既能實(shí)現(xiàn)分散又能避免不良副作用的“最佳點(diǎn)”,如何確定超聲強(qiáng)度和時(shí)間,可能是一項(xiàng)挑