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日本snk粉體表面微粒子檢測光源設備Parallel Eye D
日本snk粉體表面微粒子檢測光源設備Parallel Eye D

參考價格

1-5萬元

型號

Parallel Eye D

品牌

日本snk

產地

日本

樣本

暫無
深圳秋山工業(yè)設備有限公司

金牌會員

|

第1年

|

生產商

工商已核實

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核心參數
  • 誤差率:

    3000
  • 分辨率:

    400
  • 重現性:

    300
  • 儀器原理:

    其他
  • 分散方式:

    100
  • 測量時間:

    不限
  • 測量范圍:

    300
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粉體表面微粒子檢測

  • 可視化表面附著顆粒:Parallel Eye D可以作為表面異物觀察光源,通過與D-light相同的原理,選擇性地可視化粘附到表面的熒光粒子。這使得它能夠檢測粉體表面附著的微小顆粒,幫助識別粉體在生產、運輸或使用過程中可能受到的污染。

  • 熒光顏色差異識別物質類型:該設備還可以通過熒光顏色的差異來識別物質的類型。這意味著在檢測粉體表面微粒子時,不僅能發(fā)現其存在,還能初步判斷這些微粒子的成分,這對于粉體質量控制和污染源追蹤具有重要意義。

粉體加工環(huán)境監(jiān)測

  • 懸浮微??梢暬?/span>:Parallel Eye D不僅可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢,還可以觀察漂浮的細顆粒。在粉體加工環(huán)境中,如粉碎、混合、篩分等工序,會產生大量的懸浮微粒,這些微??赡軙绊懛垠w的質量和加工設備的性能。通過Parallel Eye D,可以實時監(jiān)測這些懸浮微粒的分布和濃度,及時采取措施減少粉塵污染。

  • 遠程可視化:該設備的光源可以到達很遠的地方,即使在距離光源幾米遠的地方,也能實現微粒的可視化。這使得它能夠在粉體加工車間等較大空間內進行有效的監(jiān)測,無需近距離接觸設備或物料,提高了監(jiān)測的靈活性和安全性。

粉體質量控制與優(yōu)化

  • 與圖像處理軟件結合:Parallel Eye D可以與圖像處理軟件包“Particle Eye”結合使用,在PC上進行實時圖像處理和記錄。這樣可以對粉體表面的微粒子進行定量分析,記錄微粒子的數量、大小和分布等信息,為粉體質量控制提供準確的數據支持。

  • 低成本高靈敏度檢測:與低功率激光器相比,Parallel Eye D結合高靈敏度相機“Eyescope”可以實現高靈敏度的氣流和細顆粒可視化,且成本相對較低。這對于粉體生產企業(yè)來說,是一種經濟高效的微粒子檢測解決方案,有助于降低質量控制成本,提高生產效率。


創(chuàng)新點

粉體表面微粒子檢測
可視化表面附著顆粒:Parallel Eye D可以作為表面異物觀察光源,通過與D-light相同的原理,選擇性地可視化粘附到表面的熒光粒子。這使得它能夠檢測粉體表面附著的微小顆粒,幫助識別粉體在生產、運輸或使用過程中可能受到的污染。
熒光顏色差異識別物質類型:該設備還可以通過熒光顏色的差異來識別物質的類型。這意味著在檢測粉體表面微粒子時,不僅能發(fā)現其存在,還能初步判斷這些微粒子的成分,這對于粉體質量控制和污染源追蹤具有重要意義。
粉體加工環(huán)境監(jiān)測
懸浮微粒可視化:Parallel Eye D不僅可以觀察粘附在表面的細顆粒和污垢,還可以觀察漂浮的細顆粒。在粉體加工環(huán)境中,如粉碎、混合、篩分等工序,會產生大量的懸浮微粒,這些微??赡軙绊懛垠w的質量和加工設備的性能。通過Parallel Eye D,可以實時監(jiān)測這些懸浮微粒的分布和濃度,及時采取措施減少粉塵污染。
遠程可視化:該設備的光源可以到達很遠的地方,即使在距離光源幾米遠的地方,也能實現微粒的可視化。這使得它能夠在粉體加工車間等較大空間內進行有效的監(jiān)測,無需近距離接觸設備或物料,提高了監(jiān)測的靈活性和安全性。
粉體質量控制與優(yōu)化
與圖像處理軟件結合:Parallel Eye D可以與圖像處理軟件包“Particle Eye”結合使用,在PC上進行實時圖像處理和記錄。這樣可以對粉體表面的微粒子進行定量分析,記錄微粒子的數量、大小和分布等信息,為粉體質量控制提供準確的數據支持。
低成本高靈敏度檢測:與低功率激光器相比,Parallel Eye D結合高靈敏度相機“Eyescope”可以實現高靈敏度的氣流和細顆??梢暬?,且成本相對較低。這對于粉體生產企業(yè)來說,是一種經濟高效的微粒子檢測解決方案,有助于降低質量控制成本,提高生產效率。

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售后服務

10分

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日本snk粉體表面微粒子檢測光源設備Parallel Eye D信息由深圳秋山工業(yè)設備有限公司為您提供,如您想了解更多關于日本snk粉體表面微粒子檢測光源設備Parallel Eye D報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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