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晶圓厚度測量系統(tǒng)

推薦第三代半導體人注意!3 大「精度革命」神器即將空降蘇州,解鎖 SiC 生產降本增效密碼!

在第三代半導體碳化硅(SiC)賽道上,0.1μm 的精度誤差可能導致良品率暴跌 15%,單晶圓成本激增數千元!從晶體生長到晶圓加工,每一道工序都在考驗設備的精度極限。2025年8月20-21日在江蘇·蘇州由中國粉體網主辦的第[更多]

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