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安東帕中國(guó)

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贏取尖端儀器!安東帕「Zeta電位創(chuàng)新獎(jiǎng)」全球征集令

贏取尖端儀器!安東帕「Zeta電位創(chuàng)新獎(jiǎng)」全球征集令
安東帕  2025-10-31  |  閱讀:33

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安東帕 Zeta 電位創(chuàng)新獎(jiǎng)重磅來(lái)襲!

準(zhǔn)備好用最先進(jìn)的分析儀器把您的研究推上新臺(tái)階了嗎?參與 Zeta 電位創(chuàng)新獎(jiǎng),您有機(jī)會(huì)贏得一臺(tái)采用突破性 cmPALS 技術(shù)的 Litesizer DLS 701 或者一臺(tái)用于表面 Zeta 電位分析的 SurPASS 3。

提交一份 A4 紙的創(chuàng)新構(gòu)想,即有機(jī)會(huì)將價(jià)值百萬(wàn)的頂尖分析儀器收入囊中!


獎(jiǎng)項(xiàng)設(shè)置


兩大尖端儀器任選其一:


  • Litesizer DLS 701:納米顆粒粒徑、Zeta電位、分子量、顆粒濃度尖端測(cè)量?jī)x器,突破性cmPALS技術(shù)將Zeta電位測(cè)量提升到了新的水平

  • SurPASS 3:固體表面Zeta電位測(cè)量的黃金標(biāo)準(zhǔn),用于膜材料、半導(dǎo)體、高分子、生物材料等領(lǐng)域的Zeta電位、等電點(diǎn)測(cè)量


獲獎(jiǎng)權(quán)益:


? 免費(fèi)獲得所選儀器(每臺(tái)儀器各1名獲獎(jiǎng)?wù)撸?/span>

? 在國(guó)際網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)展示研究成果

? 入選安東帕全球成功案例,激勵(lì)更多科研同仁


參與方式


選擇儀器:


根據(jù)研究方向選擇最適合的分析利器

  • Litesizer DLS XX1

  • SurPASS 3


撰寫(xiě)提案:用一頁(yè)A4紙說(shuō)明


內(nèi)容必須清晰闡述以下三點(diǎn):

  • 研究項(xiàng)目概述簡(jiǎn)明介紹您的研究背景、目標(biāo)和當(dāng)前面臨的挑戰(zhàn)。

  • 儀器的影響:重點(diǎn)說(shuō)明 Litesizer DLS XX1 或 SurPASS 3 將如何具體地助力您的工作?例如,它能解決什么現(xiàn)有技術(shù)無(wú)法解決的難題?或?qū)槟难芯繋?lái)哪些新的機(jī)遇?

  • 技術(shù)獲益分析:詳細(xì)說(shuō)明您期望從儀器的獨(dú)特技術(shù)(如Litesizer XX1的cmPALS 或 SurPASS 3 的流動(dòng)電位測(cè)量技術(shù))中獲得哪些具體、可量化的益處。


提交申請(qǐng):


  • 截止日期2026年3月31日


評(píng)審機(jī)制


由頂尖科學(xué)家組成的評(píng)審團(tuán)將從:


  1. 科學(xué)價(jià)值


  • 項(xiàng)目是否針對(duì)重要的科學(xué)問(wèn)題或技術(shù)挑戰(zhàn)?

  • 研究構(gòu)想是否具有原創(chuàng)性和新穎性?

  • 是否有可能推動(dòng)該領(lǐng)域的知識(shí)邊界或技術(shù)進(jìn)步?

  1. 項(xiàng)目可行性

  • 申請(qǐng)?zhí)岚甘欠癯浞智揖珳?zhǔn)地闡述了所選儀器(Litesizer DLS XX1 或 SurPASS 3)在解決研究難題中的關(guān)鍵作用?

  • 項(xiàng)目計(jì)劃是否切實(shí)可行,儀器的技術(shù)特性是否與研究目標(biāo)高度匹配?

  1. 潛在影響力

  • 研究成果可能對(duì)學(xué)術(shù)界、工業(yè)界或社會(huì)產(chǎn)生何種積極影響?

  • 申請(qǐng)材料是否邏輯清晰、重點(diǎn)突出,在一頁(yè)A4紙內(nèi)有效地傳達(dá)了核心思想?

通過(guò)三個(gè)維度對(duì)所有提交的材料進(jìn)行評(píng)估,確保對(duì)每個(gè)申請(qǐng)?zhí)岚高M(jìn)行公平且全面的評(píng)估。



為何參與

零成本獲得頂尖科研設(shè)備

向全球展示您的創(chuàng)新研究

成為靈感源泉,激勵(lì)全球科學(xué)家


儀器亮點(diǎn)

Litesizer DLS 701 納米粒度及Zeta電位分析儀

  • 三角度粒度測(cè)量,具備自動(dòng)角度選擇和多角度聯(lián)合測(cè)量模式

  • 專利cmPALS技術(shù)使Zeta電位測(cè)量的靈敏度和穩(wěn)定性顯著提高

  • 具有全面的測(cè)量功能,包括粒徑、Zeta電位、顆粒濃度、分子量、透射率、折光率

  • 適用于蛋白、脂質(zhì)體、微乳液,以及各類納米顆粒

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SurPASS 3 固體表面電位儀:

  • 流動(dòng)電位測(cè)量技術(shù)領(lǐng)先業(yè)界

  • 精準(zhǔn)表征固體材料、膜和涂層

  • 材料科學(xué)、膜技術(shù)研究的理想伙伴

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