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汽車清潔度管控   

Phenom Scientific 

清潔度一般指汽車零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度，用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、數(shù)量、材料種類等特征參數(shù)來(lái)表征。具體采用何種方法及指標(biāo)對(duì)顆粒物進(jìn)行測(cè)試分析，取決于不同顆粒物對(duì)部件性能的影響程度及清潔度控制精度要求。

「汽車清潔度解決方案」

 Phenom Scientific 

PART 01 

飛納全自動(dòng)汽車清潔度分析 

ParticleX [電鏡法]

生產(chǎn)中的異物顆粒是質(zhì)量工程的噩夢(mèng)。Al2O3、SiC、SiO2 和玻璃等硬質(zhì)顆粒是最危險(xiǎn)的污染物之一，因?yàn)樗鼈兏菀自诒砻嫔袭a(chǎn)生劃痕或卡住移動(dòng)部件。檢測(cè)此類顆粒的挑戰(zhàn)在于，其中一些具有高透明度或低對(duì)比度（與濾膜相比），無(wú)法用光學(xué)顯微鏡檢測(cè)到。

全自動(dòng)汽車清潔度分析系統(tǒng) ParticleX，以掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)，可以全自動(dòng)對(duì)顆粒或雜質(zhì)進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)。

早在 ASPEX 時(shí)代，它就以開創(chuàng)性的掃描電鏡與能譜儀結(jié)合技術(shù)，打破了傳統(tǒng)顆粒檢測(cè)的效率瓶頸；升級(jí)到 Explorer4 后，自動(dòng)化識(shí)別與成分分析能力再上臺(tái)階，讓微米級(jí)雜質(zhì)無(wú)所遁形。而如今的 ParticleX，更是集大成者 —— 全自動(dòng)流程實(shí)現(xiàn)快速識(shí)別、分析與分類統(tǒng)計(jì)，工程師能清晰觀察微米尺寸顆粒，精準(zhǔn)確定化學(xué)成分，輕松鎖定污染源。

從研發(fā)到生產(chǎn)，它提供的定量數(shù)據(jù)快速、準(zhǔn)確又可靠，一鍵導(dǎo)出報(bào)告的功能更是省時(shí)省力。目前，奔馳、寶馬、博澤、三電、三花等國(guó)內(nèi)外知名車企都已投入使用。

Phenom ParticleX 汽車清潔度檢測(cè)系統(tǒng)（電鏡法）可以表征顆粒的形態(tài)及化學(xué)成分，并對(duì)硬質(zhì)顆粒進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別并詳細(xì)分類，支持一鍵導(dǎo)出數(shù)據(jù)報(bào)告。

該過(guò)程完全符合 ISO16232 和 VDA19 要求。只需一鍵，即可自動(dòng)分析 4 片直徑 47mm 的濾膜，無(wú)需人員值守，可連續(xù)運(yùn)行，并且一鍵生成報(bào)告，更有效率地監(jiān)控清潔度。

PART 02 

高性價(jià)比清潔度快速分析儀

MicroQuick

01行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)：符合 VDA19 / ISO16232

02快速簡(jiǎn)便：2.5 分鐘內(nèi)完成過(guò)濾分析并生成報(bào)告

03絕對(duì)可靠：10 年內(nèi)零維修案例

04“零”維護(hù)：自行校準(zhǔn)，自動(dòng)生成審計(jì)報(bào)告

PART 03

 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS

FastmicroFastmicro 

環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測(cè)量而研發(fā)，支持秒級(jí)間隔的數(shù)據(jù)采集，精準(zhǔn)測(cè)量 0.5 μm 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng)，幫助客戶實(shí)現(xiàn)從單純空氣監(jiān)測(cè)向表面潔凈度監(jiān)測(cè)的跨越式升級(jí)，為工藝流程優(yōu)化和潔凈度持續(xù)改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。

01符合 ISO 14644-17 標(biāo)準(zhǔn)

02可檢測(cè)低至 0.5 μm 顆粒

0310 秒完成 2 英寸面積檢測(cè)

04適用于真空與常壓環(huán)境

PART 04 

儀器表面顆粒物分析儀 SAS

Fastmicro

Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀，是一款基于“膠帶粘取”采樣技術(shù)的表面污染檢測(cè)工具，可通過(guò)間接測(cè)量方式識(shí)別小至 0.5μm 的顆粒污染物。其配備的專用 PMC 采樣卡能在各類表面（包括難以觸及區(qū)域和高粗糙度表面）實(shí)現(xiàn)靈活采樣，且不會(huì)殘留可檢測(cè)的痕跡。該設(shè)備可在數(shù)秒內(nèi)完成 225 mm2 采樣區(qū)域的分析，確保快速獲得精準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果。搭配 2 英寸晶圓支架，也可對(duì)沉降顆粒進(jìn)行檢測(cè)，滿足跨行業(yè)復(fù)雜場(chǎng)景的檢測(cè)需求。

01符合 ISO 14644-9 標(biāo)準(zhǔn)

02可檢測(cè)低至 0.5 μm 顆粒

0390% 采集效率 | >90% 重復(fù)性

0410 秒完成檢測(cè)

05ASML 也在用！

Dr. Ir. L.H.A. Leunissen | ASML, cleanliness project manager 說(shuō)到：“作為長(zhǎng)期合作伙伴，F(xiàn)astmicro 的整合應(yīng)用使我們達(dá)成了設(shè)備缺陷率指標(biāo)要求。該設(shè)備不僅測(cè)量精準(zhǔn)，更具備操作簡(jiǎn)便和高通量特性。我們高度認(rèn)可 Fastmicro 的專業(yè)服務(wù)，并期待未來(lái)通過(guò)深度合作進(jìn)一步拓展設(shè)備的功能邊界?！?/p>

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