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SEM/TEM離子束制樣新技術(shù):離子研磨儀,離子精修儀,離子減薄儀

SEM/TEM離子束制樣新技術(shù):離子研磨儀,離子精修儀,離子減薄儀
復(fù)納科技  2025-10-13  |  閱讀:53

隨著電子顯微技術(shù)的不斷進(jìn)步,如何高效、精確地制備高質(zhì)量的薄片已成為材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域的重要議題。作為一種常用的薄片制備方法,聚焦離子束(FIB)技術(shù)雖被廣泛應(yīng)用,但在使用過程中會(huì)涉及到高能離子及 Ga 的使用,這可能引入不必要的離子注入。為了克服這一局限性,寬離子束(BIB)技術(shù)逐漸受到關(guān)注,并展現(xiàn)出其在降低損傷、提高樣品質(zhì)量方面的優(yōu)勢。

為了更好地理解和應(yīng)用 BIB 技術(shù),我們誠摯邀請您參加本次專題研討會(huì)。

Part.1.會(huì)議詳情

會(huì)議時(shí)間

2025 年 10 月 17 日(周五)10:00-12:00

參與方式

線上參會(huì)

我們期待您的參與,共同探討前沿技術(shù),攜手推動(dòng)材料科學(xué)的創(chuàng)新發(fā)展!參與網(wǎng)絡(luò)研討會(huì),直播間互動(dòng),還將會(huì)有精品禮品相送哦!

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