分辨率:
大于0.1nm重現(xiàn)性:
<1%儀器原理:
動(dòng)態(tài)光散射分散方式:
濕法分散測(cè)量時(shí)間:
1-10min測(cè)量范圍:
5nm-100μm看了美國(guó)Zeta-APS電位分析儀的用戶又看了
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Zeta-APS高濃度納米粒度儀及Zeta電位分析儀
儀器簡(jiǎn)介:
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊揍,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配)自動(dòng)摘定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到**分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無(wú)需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
5)可精確測(cè)量無(wú)水體系;
6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量;
7)樣品的**濃度可達(dá)60%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量;
8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)被測(cè)樣品無(wú)需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無(wú)需定標(biāo);
2)能測(cè)更寬的粒徑范圍;
3)無(wú)需依賴Double Layer模式
4)無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
6)可適用于無(wú)水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1)無(wú)需稀釋,固合量高達(dá)60%;
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測(cè)量;
6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量;
7)可精確測(cè)量無(wú)水體系;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。
納米粒度儀應(yīng)用于制備機(jī)械強(qiáng)度高的無(wú)voc聚合物薄膜的軟核-硬殼乳膠顆粒檢測(cè)與溶劑型聚合物分散體相比,由水性聚合物分散體澆注的聚合物薄膜通常存在固有的機(jī)械強(qiáng)度不足的缺陷。這個(gè)缺點(diǎn)可以通過(guò)使用包含硬相和軟
2023-03-27
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2021-05-20
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2020-03-04
澄明度檢測(cè)和澄清度檢測(cè)的區(qū)別 澄明度檢測(cè)的目的是檢測(cè)人眼可見(jiàn)到的細(xì)小異物(直徑50um以上)小白點(diǎn)、小玻璃渣或短小纖維物體。應(yīng)用的是“可見(jiàn)異物檢查法”。 澄清度檢測(cè)的目的是把樣品和標(biāo)準(zhǔn)濁度
2020-03-04
前言我們誠(chéng)摯的邀請(qǐng)您參加2025上海國(guó)際生物醫(yī)藥產(chǎn)業(yè)周分論壇--當(dāng)前形勢(shì)下新藥研發(fā)技術(shù)研討論壇。本次論壇邀請(qǐng)到行業(yè)內(nèi)各位專家學(xué)者,對(duì)目前藥品研發(fā)的行業(yè)動(dòng)態(tài)和變革進(jìn)行了深入的解讀。我們希望您能在本次論壇
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國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示,蘇州胤煌精密儀器科技有限公司取得一項(xiàng)名為“一種顆粒檢測(cè)裝置”的專利,授權(quán)公告號(hào)CN 119246387 B,申請(qǐng)日期為2024年12月。 蘇州胤煌精密儀器科技有限公司
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