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面議型號(hào)
TECNAI G2 F30品牌
FEI產(chǎn)地
日本樣本
暫無(wú)誤差率：
0.5分辨率：
0.1nm重現(xiàn)性：
0.5儀器原理：
其他分散方式：
0.5測(cè)量時(shí)間：
0.5測(cè)量范圍：
0.5看了場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡的用戶(hù)又看了
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TECNAI G2 F30 是一臺(tái)多功能、多用戶(hù)環(huán)境的場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS頻譜成像等）進(jìn)行方便靈活地有機(jī)組合，形成了強(qiáng)大的分析功能，從而在同類(lèi)型儀器中獨(dú)占鰲頭。除具有200KV的各種優(yōu)點(diǎn)外，TECNAI G2 F30提供了300KV的加速電壓，可分析更厚、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時(shí)，該儀器使用戶(hù)可以在原子尺寸的分辨率下進(jìn)行高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析。 TECNAI G2 F30的主要功能是TEM形貌觀察及HRTEM，SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、MAPPING。廣泛應(yīng)用于材料、化學(xué)、物理、地質(zhì)、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體、高分子、陶瓷等學(xué)科及領(lǐng)域.
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