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FIB聚焦離子束系統(tǒng)
FIB聚焦離子束系統(tǒng)

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型號

卡爾蔡司CROSSBEAM350

品牌

產(chǎn)地

德國

樣本

暫無
北京依維特技術服務有限公司

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第3年

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生產(chǎn)商

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  • 誤差率:

    0.5
  • 分辨率:

    0.1nm
  • 重現(xiàn)性:

    0.5
  • 儀器原理:

    其他
  • 分散方式:

    0.5
  • 測量時間:

    0.5
  • 測量范圍:

    0.5
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蔡司雙束電鏡CROSSBEAM系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。CROSSBEAM系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)出色的加工能力相結合。1,生命科學,如斷層掃描,三維重構
2,電池領域,如原子層組分表征
3,半導體領域,如失效分析,電路修復
4,金屬領域,如界面分析,亞表面分析
5,材料科學,如晶體微觀結構分析,納米圖形化加工
6,透射電鏡、EBSD、微觀力學等多種樣品的原位制備
7,微納加工。

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