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JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。
利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。
高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實現(xiàn)各種分析功能。
JEM-2100F**設(shè)計的側(cè)插式側(cè)角臺，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時都不會造成機(jī)械飄移。
SJEM-2100F可與TEM， MDS， EDS， EELS， and CCD-camera實現(xiàn)一體化控制。
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