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C12200系列TDI線掃描X射線相機(jī)
C12200系列TDI線掃描X射線相機(jī)

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產(chǎn)地

日本

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濱松光子學(xué)商貿(mào)(中國)有限公司

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特性

--在線檢測,檢測寬度達(dá)221 mm

--高分辨率、高靈敏度: 4608 (H)×128 (V)

--讀出速度快,2×2拼接下約為36.8 m/min

--12位數(shù)字輸出,高信噪比

--Camera Link 接口(基本配置)

--+15V單電源工作

--實(shí)時暗電流/陰影校正功能

--針對簡易安裝校準(zhǔn)的幀讀出模式

原理

時間延遲積分(Time Delay Integration)掃描技術(shù)用于通過幀轉(zhuǎn)移設(shè)備對移動物體獲得持續(xù)的視頻圖像。通過控制一群線性陣列組合對物體的運(yùn)動進(jìn)行同步。這樣,當(dāng)圖像從一行移動至下一行時,積累起來的電荷也隨之移動,相比于線掃描相機(jī)能夠在更弱的光強(qiáng)下提供更高的分辨率。

應(yīng)用

--PCB檢測

--電池檢測

--表面貼裝器件檢測

--高分辨率非脫機(jī)無損檢測

測量示例

BGA的空洞檢測

傳統(tǒng)方式的BGA空洞檢查需要拍攝詳細(xì)的切片圖像,并需要使用大型的三維CT設(shè)備。使用三維CT的檢測方式,由于零部件會受到大量輻射,因此會出現(xiàn)一些IC零部件被損壞的可能性。使用TDI相機(jī)的檢測方式,X射線的照射范圍將局限在扇形的狹窄區(qū)域,只要被測物體在此區(qū)域高速移動即可完成檢測,從而大幅降低對于電路板的輻射量。由于具有**的信噪比性能,即使在低能量的照射下也能分辨出有無空洞。通過縮小X射線的照射區(qū)域,減少從檢測設(shè)備中泄漏的輻射量,這將有利于設(shè)備本身的小型化。

焊錫背面的焊縫檢測

如果在印刷電路板零部件的背面焊接中出現(xiàn)焊接不良,如稍有震動焊接處將會脫落從而引起接觸不良。由于傳統(tǒng)的檢測方式為X射線透射的方式,因此只能在離線的狀態(tài)下進(jìn)行檢測。通過TDI檢測方式就能取得高速高靈敏度的一維分析數(shù)據(jù),并且只要在所獲取的一維數(shù)據(jù)中設(shè)定閾值就能實(shí)現(xiàn)在線狀態(tài)的不良檢測。一維數(shù)據(jù)可通過軟件編輯把不同亮度信息顯示為三維圖像。

鋰離子電池檢測

使用2D傳感器時,由于在X射線輻射的邊緣處圖像的畸變,無法準(zhǔn)確進(jìn)行尺寸的測量。長度長的樣品需要放置在X射線源的中央,因此每次采集都需要重新放置樣品。X射線TDI相機(jī)通過采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)了無畸變的圖像采集,因此無需重置樣品,可以對長度長的物體進(jìn)行連續(xù)不間斷地檢測。

規(guī)格表

型號C12200-321
閃爍體FOS(閃爍體型光學(xué)纖維面板)
推薦使用范圍約25 kV~ 90 kV
X射線容限130 kV,80 μA (max.)
像素?cái)?shù)4608 (H)×128 (V)
有效像素?cái)?shù)4608 (H)×110 (V)
像素尺寸48 μm×48 μm
X射線敏感區(qū)域221 mm (H)×6 mm (V)
CCD像素時鐘5.0 MHz
TDI線速率Max.8.0 kHz (23.04 m/min)
TDI線速率控制外部模式或內(nèi)部模式
A/D轉(zhuǎn)換器12位
外部控制接口Camera Link基本配置
像素時鐘40.0 MHz(Camera Link)
A/D增益0 dB~ 14 dB (64 階)*2
電源DC+15 V(±1 V)
功耗**40W

外形尺寸圖(單位:mm)

像素之間的死區(qū)

C12200-321在芯片之間有死區(qū)。死區(qū)對X射線圖像的影響取決于測量條件諸如X射線放大倍率和X射線源焦點(diǎn)尺寸。

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