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AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機
AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機

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型號

AFM-in-Phenom XL

品牌

飛納

產地

荷蘭

樣本

暫無
復納科學儀器(上海)有限公司

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    0.2nm×0.2nm×0.04nm
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全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢,實現了在同一系統中對樣品進行多模態(tài)(SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學)關聯分析。

 

· 設備掃描范圍(開環(huán)):100μm×100μm×20μm

· 設備掃描范圍(閉環(huán)):80μm×80μm×16μm

· 分辨率:0.2nm×0.2nm×0.04nm

· **樣品尺寸:21mm×11mm×8mm

· **樣品重量:100g

· 成像模式:表面形貌和粗糙度、CAFM、KPFM、FMM、PFM、EFM、F-z curves、I-V curves等

新建 PPTX 演示文稿_04.png

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全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 結合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢,實現了在同一系統中對樣品進行多模態(tài)(SEM 及 AFM 形貌、元素、機械、電學、磁學)關聯分析。

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10分

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10分

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10分
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