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硅漂移探測器（SDD）設(shè)計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質(zhì)的準確度和速度。新優(yōu)化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規(guī)則表面的可重現(xiàn)性。此外，高性能探測器能提高計數(shù)率，增加探測痕量元素的精密度，并且實現(xiàn)測量較輕元素的**能力。為了確保高生產(chǎn)率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中具挑戰(zhàn)性的一項）功能設(shè)計成比傳統(tǒng)型號速度更快，從而大幅提高通量。
該軟件的一項內(nèi)置功能可直觀標記超出預(yù)設(shè)濃度限制的預(yù)定義元素。使用精密度控制軟件的EA1280一旦達到預(yù)定義參數(shù)將自動停止分析。可在預(yù)定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量，從而節(jié)省時間且不會影響質(zhì)量計劃。
除了RoHS篩查，EA1280也能夠辨別礦渣（硅、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。
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