誤差率:
無分辨率:
大于0.1nm重現(xiàn)性:
<1%儀器原理:
動態(tài)光散射分散方式:
濕法測量時間:
1-10min測量范圍:
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美國MAS粒度Zeta電位分析儀
Zeta電位測量方法有哪些?
Zeta電位又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢),是指剪切面(Shear Plane)的電位,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。
由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子,這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態(tài)分布而形成擴散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,即Stern層和擴散層。當(dāng)分散粒子在外電場的作用下,穩(wěn)定層與擴散層發(fā)生相對移動時的滑動面即是剪切面,該處對遠離界面的流體中的某點的電位稱為Zeta電位或電動電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢差。它可以通過電動現(xiàn)象直接測定。
測量Zeta電位的方法主要有:
電泳法-當(dāng)電場施加于電解質(zhì)時,懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動。當(dāng)這兩種對抗力達到平衡時,粒子以恒定的速度運動,我們一般稱這個速度通為電泳遷移率。
電滲法-單位場強下的液體移動速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢成簡單的正比關(guān)系,所以可以利用電滲來測量ξ電勢,但此法只限于能形成毛細管或多孔介質(zhì)的材料。
流動電位法-流動電勢是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個帶電荷的絕緣表面流動時,表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動方向運動,這些帶電荷粒子的運動導(dǎo)致下游積累電荷,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動電勢。
超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓,帶點粒子運動會產(chǎn)生聲波,測量所產(chǎn)生的聲波,就可以計算顆粒的動態(tài)遷移率,后通過計算得到Zeta電位
美國MAS粒度Zeta電位分析儀
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。
主要特點:
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點;
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
5)可精確測量無水體系;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進行電位測量;
7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;
8)具有自動電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
美國MAS粒度Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需定標(biāo);
2)能測更寬的粒徑范圍;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達60%;
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測量;
6)對流(convection)不影響測量;
7)可精確測量無水體系;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數(shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
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