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光譜反射儀
光譜反射儀

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產地

美國

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German First-Nano System 德國韋氏納米

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光譜反射儀(SR)系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。

SR 系列特征:

  • 簡單易操作

  • **系統(tǒng)性能基于先進的光學設計

  • 基于陣列的探測器系統(tǒng)保證快速測量

  • 測量薄膜厚度和折射率可達5層

  • 允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜

  • 可用于實時或在線厚度,折射率的監(jiān)測

  • 系統(tǒng)具有全面的光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫

  • 先進的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似(EMA)每個單獨的膜。

  • 可升級到MSP(顯微分光光度計)系統(tǒng),SRM映射系統(tǒng),多通道系統(tǒng),大點的·直接測量圖案或功能結構

  • 適用于多種不同厚度的基材

  • 各種附件可用于特殊配置,如運行曲線測量曲面

  • 2D和3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據(jù)管理接口

光譜反射儀型號:

SR100SR300SR500

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性價比

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