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針尖技術與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng) AFMinSEM （德國 Nano analytik)

簡介：

公司以全球****的針尖技術為核心競爭力，技術源自于德國伊爾默瑙工業(yè)大學，致力于主動式針尖技術在微納米結(jié)構制備和表征方面的研發(fā)，及其相關設備的產(chǎn)業(yè)化。

公司開發(fā)的針尖技術模塊為滿足高精度成像而空間受限的應用需求而設計，既可以在大氣環(huán)境下實現(xiàn)樣品快速表征，也可以集成在真空環(huán)境中，如集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中。無需對SEM腔室進行任何改造，保留SEM原有功能，賦予嶄新的應用領域，例如進行原位形貌表征、微操作和針尖誘導沉積。

技術特點：

。 不影響掃描電鏡自身功能

。4mm電鏡工作距離

。 原子力、電子束及離子束功能聯(lián)用

。 標準數(shù)據(jù)法蘭接口，方便安裝

。 大氣、真空環(huán)境操作

。 體積小，重量輕，靈活

。 樣品可掃范圍大 20 x 20 mm

。 自激發(fā)自傳感智能針尖規(guī)

功能指標：