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什么是Curve Tracing?

"Curve tracing" 曲線追蹤是用于尋找IC芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace產(chǎn)品提供了廣泛的一系列解決方案，從使用powered curve tracing測試小型芯片的開路/短路到使用Latch Up testing測試與更為復(fù)雜的多電路的芯片。

RTI's MT Century Curve Tracer

RTI 開發(fā)的MT Century Curve Tracer是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。MT Century Curve Tracer測試設(shè)備，*多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，一定會找到一款符合客戶的預(yù)算及測試要求的系統(tǒng)。MT Century Curve Tracer 與RTI其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他RTI機型一樣，MT Century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。

RTI's MultiTrace Test System

原來的自動曲線跟蹤器已經(jīng)提供超過10年。這款系統(tǒng)可以**檢測達625引腳。 它有各種尺寸可供選擇，以滿足*廣泛用戶的需求。

MultiTrace 的應(yīng)用:

· 無源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing):

檢測開路，短路和漏電流

· 有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing):

檢測漏電流，供電電流問題。 測量大量有用的參數(shù)

· 電源電流測量(Supply Current Measurements):

兩種方法來測量電流供應(yīng) 。

A 6-Bus 系統(tǒng)可同時對3組電源測量

· Latch Up 測試: (選配)

根據(jù)JESD 78 特征， 找出 Latch-Up 敏感度 .

基礎(chǔ) Curve Tracing 的應(yīng)用:

· Input-Output 轉(zhuǎn)換功能:

將輸入電壓接到引腳上，測量輸出引腳電平變化.

· 對晶體管做曲線分析:

檢測任何型號的晶體管

· 顯微鏡:

使用顯微鏡定位原件的損傷部位.

· IDDQ 測試:

測量芯片每個狀態(tài)的電流輸入

· 功能性的引導(dǎo)能力:

Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing

根據(jù)所輸入信息改變輸入 Pin的狀態(tài)，然后進行量測。測量輸出區(qū)域的功能測試狀態(tài)。

· Kelvin 4-Wire 阻力測試:

使用這種特制的應(yīng)用軟件來控制開關(guān)矩陣和收集的數(shù)據(jù)，實現(xiàn)精密的電阻測量。

RTI's MegaTrace 自動直流參數(shù)曲線追蹤

MegaTrace由648引腳開始一直到2160的引腳，因此其有足夠的能力來測試幾乎任何芯片。機器集成化較高，機臺很容易移動，也可以與其他儀器如顯微鏡，探針臺，以及其他遠程測試機器一起使用。

曲線追蹤功能

· Unpowered 曲線追蹤 (連續(xù)測試)

· Powered 曲線追蹤

· Supply Current Characterization (Idd 測試)

· 6條總線系統(tǒng)的2VDD 及 3 VDD 湔試

其它測量及測試功能

· Latch-Up 測試

· 功能性預(yù)處理

· 任何的±15V 一& ±1A直流測量