核心參數(shù)
- 探測(cè)器:BSE、SE、EDS
- 加速電壓:1-15kv連續(xù)可調(diào)
- 電子光學(xué)放大:100萬倍
- 分辨率:<2.5 nm
ZEM Ultra 臺(tái)式掃描電鏡采用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源,三級(jí)獨(dú)立真空設(shè)計(jì),優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉(cāng),支持原位功能樣品臺(tái)及EDS/EBSD拓展。
產(chǎn)品特色:
▲ 易用性強(qiáng)
▲ 全自動(dòng)操作
▲ 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
▲ 高穩(wěn)定性
▲ 高分辨觀測(cè)
▲ 豐富拓展
應(yīng)用案例:

金顆粒150000X (左)碳納米管 20000X(右)

磷酸鐵鋰 30000X(左)二氧化硅 100000X(右)
產(chǎn)品參數(shù):

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