公司介紹
澤攸科技成立于2016年，擁有安徽、北京、上海和東莞四家分公司，是一家具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的精密儀器高科技公司。公司專(zhuān)注于掃描電鏡、原位測(cè)量系統(tǒng)、臺(tái)階儀、探針臺(tái)、電子束光刻機(jī)等精密設(shè)備的研究，填補(bǔ)了國(guó)家在科學(xué)精密儀器領(lǐng)域的諸多空白。人才是企業(yè)的核心競(jìng)爭(zhēng)力和發(fā)展的驅(qū)動(dòng)力。澤攸科技于20世紀(jì)90年代便開(kāi)啟電子顯微鏡及相關(guān)原位附件的研發(fā)，已逐步打造成為科學(xué)精密儀器領(lǐng)域人才聚集地?，F(xiàn)有員工200多人，其中院士、專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)20余人，擁有精通機(jī)械、光學(xué)、超高真空、電子技術(shù)、微納加工技術(shù)、軟件開(kāi)發(fā)技術(shù)的專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)。為解決行業(yè)內(nèi)“卡脖子”難題，企業(yè)全力培養(yǎng)人才，重視產(chǎn)學(xué)研用合作，并與十幾家高校及科研院所建立了長(zhǎng)期
主推產(chǎn)品
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡?產(chǎn)品介紹：ZEMUltra臺(tái)式掃描電鏡采用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，三級(jí)獨(dú)立真空設(shè)計(jì)，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿(mǎn)足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。采用肖特基電子槍+三級(jí)真空系統(tǒng)，支持50萬(wàn)倍放大及EDS/EBSD分析。適用納米材料、電池研發(fā)、半導(dǎo)體檢測(cè)領(lǐng)域標(biāo)配大束流及大樣品倉(cāng)，支持原位功能樣品臺(tái)及EDS/EBSD拓展。?產(chǎn)品特色：▲易用性強(qiáng)▲全自動(dòng)操作▲肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍▲高穩(wěn)定性▲高分辨觀測(cè)▲豐富拓展?應(yīng)用案例：?產(chǎn)品參數(shù)：
澤攸科技ZML10A是一款創(chuàng)新的桌面級(jí)無(wú)掩膜光刻設(shè)備，專(zhuān)為高效、精準(zhǔn)的微納加工需求設(shè)計(jì)。該設(shè)備采用高功率、高均勻度的LED光源，并結(jié)合先進(jìn)的DLP技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了黃光或綠光引導(dǎo)曝光功能，真正做到“所見(jiàn)即所得”，極大提升了操作便捷性和工藝可控性。其獨(dú)特的光路結(jié)構(gòu)和高精度直線電機(jī)位移臺(tái)確保了卓越的曝光精度和重復(fù)定位能力，同時(shí)配備CCD相機(jī)逐場(chǎng)自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，進(jìn)一步優(yōu)化了成像質(zhì)量和工藝穩(wěn)定性。設(shè)備支持電動(dòng)物鏡切換和激光主動(dòng)對(duì)焦功能，能夠靈活應(yīng)對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求。其緊湊的桌面小型化設(shè)計(jì)不僅節(jié)省空間，還便于在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)環(huán)境中部署。此外，ZML10A配備了直觀易用的軟件界面，大幅降低了操作門(mén)檻，即使是初學(xué)者
產(chǎn)品介紹澤攸科技JS系列臺(tái)階儀作為國(guó)產(chǎn)高精度表面測(cè)量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場(chǎng)景及可靠的測(cè)量性能，可以對(duì)微納結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和臺(tái)階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量，在高校、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所、半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體、高亮度LED、太陽(yáng)能、MEMS微機(jī)電、觸摸屏、汽車(chē)、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。JS系列臺(tái)階儀通過(guò)金剛石探針與樣品表面的接觸掃描，將微觀輪廓的垂直位移轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，結(jié)合高靈敏度傳感器與信號(hào)處理算法，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精度的表面特征捕捉。其核心技術(shù)亮點(diǎn)在于超微壓力恒定控制系統(tǒng)，通過(guò)精密調(diào)節(jié)探針與樣品間的接觸壓力，既避免了對(duì)軟質(zhì)材料的損傷，又確保了測(cè)量過(guò)程的穩(wěn)定性
國(guó)產(chǎn)臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
面議DMD無(wú)掩膜光刻機(jī)
面議手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10C
面議組合推薦產(chǎn)品
國(guó)產(chǎn)臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
型號(hào)：國(guó)產(chǎn)臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
國(guó)產(chǎn)臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
型號(hào)：國(guó)產(chǎn)臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
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9月12日至14日，中國(guó)物理學(xué)會(huì)2025秋季學(xué)術(shù)會(huì)議將在哈爾濱工程大學(xué)舉辦。澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及最新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相A086，我們期待您蒞臨展位參觀，共同探討行業(yè)的未來(lái)發(fā)展，攜手開(kāi)啟新的合作篇章。中國(guó)物理學(xué)會(huì)秋季學(xué)術(shù)會(huì)議是由中國(guó)物理學(xué)會(huì)主辦的年度學(xué)術(shù)會(huì)議，始于1999年。會(huì)議旨在增進(jìn)國(guó)內(nèi)外物理學(xué)界的學(xué)術(shù)交流，提高學(xué)術(shù)水平，推動(dòng)物理學(xué)科的全面發(fā)展和提升人才培養(yǎng)質(zhì)量。經(jīng)過(guò)20多年
9月10日至12日，第二十六屆中國(guó)國(guó)際光電博覽會(huì)（CIOE）將在深圳國(guó)際會(huì)展中心（寶安新館）舉辦。澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及最新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相3B22，我們期待您蒞臨展位參觀，共同探討行業(yè)的未來(lái)發(fā)展，攜手開(kāi)啟新的合作篇章。作為覆蓋光電全產(chǎn)業(yè)鏈的綜合型展會(huì)，CIOE中國(guó)光博會(huì)匯聚來(lái)自全球超3800家的優(yōu)質(zhì)參展企業(yè)，同期八展覆蓋信息通信、精密光學(xué)、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光及智能制造、紅
Cu-Ni-Sn合金因其優(yōu)異的高強(qiáng)度、熱穩(wěn)定性、耐磨性、抗腐蝕性以及安全無(wú)毒等特性，在航空航天、電子器件和核工業(yè)等多個(gè)高端領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。特別是Cu-6Ni-6Sn合金，已成功應(yīng)用于高功率密度柴油機(jī)的連桿襯套等關(guān)鍵部件中。然而傳統(tǒng)的鑄造工藝在制備此類(lèi)合金時(shí)普遍存在一個(gè)顯著缺陷——枝晶偏析。在凝固過(guò)程中，由于冷卻速度相對(duì)較慢，Sn元素容易在枝晶間富集，形成粗大的γ相和不連續(xù)析出相（DP），導(dǎo)致材
壓電超聲電機(jī)（USM）利用壓電材料的逆壓電效應(yīng)，通過(guò)高頻結(jié)構(gòu)振動(dòng)共振模式實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)，具有無(wú)齒輪直驅(qū)、響應(yīng)迅速、定位精度高、斷電自鎖、無(wú)電磁干擾以及易于微型化等顯著優(yōu)勢(shì)，因此在高精度微機(jī)電系統(tǒng)、生物醫(yī)療設(shè)備、機(jī)器人手臂、顯微鏡平臺(tái)和精密手術(shù)器械等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。這類(lèi)電機(jī)能夠?qū)崿F(xiàn)高達(dá)每秒數(shù)米的運(yùn)行速度，遠(yuǎn)超其他類(lèi)型的壓電電機(jī)，如慣性電機(jī)、尺蠖電機(jī)等。盡管其高速性能優(yōu)異，但當(dāng)需要在極低速度下進(jìn)行
隨著傳統(tǒng)馮·諾依曼結(jié)構(gòu)逐漸暴露出處理速度和能效的瓶頸，仿生神經(jīng)形態(tài)計(jì)算成為重要的替代路徑。在諸多候選器件中，憶阻器因具備非易失性、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功耗低和可擴(kuò)展性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)，被視為人工突觸的理想實(shí)現(xiàn)方式。尤其是電阻式隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（RRAM），通過(guò)調(diào)控絕緣層中離子的遷移實(shí)現(xiàn)電阻狀態(tài)的可逆切換，極大地契合了突觸權(quán)重調(diào)節(jié)的特性，因此在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和存儲(chǔ)應(yīng)用中展現(xiàn)出巨大潛力。為進(jìn)一步提升憶阻器的均一性與可靠性，研究
近日，浙江大學(xué)張澤院士、王江偉研究員團(tuán)隊(duì)作為第一單位在《Nat. Commun.》上發(fā)表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-mediated grain boundary migration》的研究成果(NAT.COMMUN.|(2019)10:156)。研究者們?cè)谕干潆婄R中利用PicoFemto?原位力學(xué)-電學(xué)樣品桿巧妙地設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)
近日，蘇州科技大學(xué)作為第一單位，在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Graphene under Hypha Assistance for Highly Efficient Solar-Driven Hydrogen Production》（DOI: 10.1021/acs.inor
近日，澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)作為第一單位，在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dynamics of Bent and Strained Ge/Si Core?Shell Nanowires As Revealed by in situ Transmission Electron Mi
解決方案
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上一期里我們對(duì)幾種不同種類(lèi)的巖石在特定作用下的破壞特征進(jìn)行了表征，感興趣的同學(xué)可以閱讀《從宏觀到微觀——澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡在巖石分析中的應(yīng)用》。巖石是地球表層和地殼的基本組成物質(zhì)，其成因和成巖過(guò)程復(fù)雜多樣，巖石的元素組成特征也是揭示其成因的重要手段。本期我們選取了大理巖、花崗巖、砂巖和石灰?guī)r等典型巖石類(lèi)型，并利用ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡和EDS能譜儀對(duì)其元素組成進(jìn)行分析，旨在揭示不同巖石
冰是水在自然界中的固體形態(tài)，在大自然中也廣泛存在，冰的結(jié)構(gòu)及形成機(jī)理研究對(duì)云物理及低溫儲(chǔ)存物理至關(guān)重要，因此科學(xué)家們對(duì)冰的研究也歷史久遠(yuǎn)。提到冰在較小尺度的存在形態(tài)，我們最容易想到的是雪花。如下圖所示，雪花具有明顯的六重對(duì)稱(chēng)性，因?yàn)楸诖笞匀恢卸嘁粤较啵↖ce Ih）存在。Fig.1 雪花的照片（圖片來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)）如果我們查閱文獻(xiàn)，就會(huì)發(fā)現(xiàn)科學(xué)家們對(duì)冰的結(jié)構(gòu)表征以能夠提供空間平均信息的衍射技術(shù)居多
安徽澤攸科技有限公司是一家具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的科學(xué)儀器公司， 自20世紀(jì)90年代開(kāi)始投入電鏡及相關(guān)附件研發(fā)以來(lái)，研發(fā)團(tuán)隊(duì)一直致力于為納米科學(xué)研究提供優(yōu)秀的儀器。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM測(cè)量系統(tǒng)、原位SEM測(cè)量系統(tǒng)、ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡、JS系列臺(tái)階儀、納米位移臺(tái)、二維材料轉(zhuǎn)移臺(tái)、探針臺(tái)及低溫系統(tǒng)、光柵尺等在內(nèi)的多個(gè)產(chǎn)品線，在國(guó)內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注，填補(bǔ)了國(guó)家在科學(xué)精密儀
ZEM18作為澤攸科技自主研發(fā)的高分辨臺(tái)式掃描電子顯微鏡，在半導(dǎo)體領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。典型案例如下:【晶圓缺陷檢測(cè)】利用ZEM18電鏡直接成像觀察晶圓表面，可以清晰展現(xiàn)出微小劃痕、顆粒污染等各類(lèi)缺陷情況。根據(jù)圖像結(jié)果判斷缺陷源頭，以?xún)?yōu)化制程，提高生產(chǎn)良率。【光刻工藝檢測(cè)】使用ZEM18電鏡可以在微米量級(jí)直接刻畫(huà)光刻膠層的側(cè)壁形貌及斷口形態(tài)。幫助評(píng)估光刻質(zhì)量與曝光量效應(yīng)，優(yōu)化曝光量設(shè)置?！窘饘倩ミB觀
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上一期里我們對(duì)幾種不同種類(lèi)的巖石在特定作用下的破壞特征進(jìn)行了表征，感興趣的同學(xué)可以閱讀《從宏觀到微觀——澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡在巖石分析中的應(yīng)用》。巖石是地球表層和地殼的基本組成物質(zhì)，其成因和成巖過(guò)程復(fù)雜多樣，巖石的元素組成特征也是揭示其成因的重要手段。本期我們選取了大理巖、花崗巖、砂巖和石灰?guī)r等典型巖石類(lèi)型，并利用ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡和EDS能譜儀對(duì)其元素組成進(jìn)行分析，旨在揭示不同巖石
2025-07-04
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